题名
电子设备BIT技术设计研究
DOI
10.12721/ccn.2023.157037
作者
李鹏飞
作者单位
中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所，河南洛阳，471000
摘要
电子设备测试BIT( Built In Test)技术是电子设备可测试性设计的重要组成部分，是隔离电子设备故障的重要手段。本文首先对国内外电子设备的BIT技术发展进行了分析介绍，对电子设备BIT设计要求、基本方法等进行系统的阐述说明，并对BIT技术的应用与发展进行了初步的研究。
关键词
BIT；电子设备；可测试性；隔离故障
刊名
电气学报
ISSN
3079-0158
年、卷(期)
20234
所属期刊栏目
工程技术
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