电容屏ITO电路缺陷自动检测光照分析

题名

电容屏ITO电路缺陷自动检测光照分析

DOI

10.12721/ccn.2021.157046

作者

高嘉桐

作者单位

汕头超声显示器有限公司，广东汕头，515000

摘要

新时期计算机高新技术持续发展，推动人机交互媒介技术不断成熟，当下，电容触摸屏（CTP，简称电容屏）已经成为最为广泛应用的人机交互技术之一，其在平板、收集及取款机设备中应用广泛。但是，CTP在应用过程中，其ITO电路缺陷会直接影响CTP性能。而ITO材料及玻璃基板的透射、反射系数相近，使高速扫描CCD（电荷耦合器件）以获取高对比度图像较为困难，电容屏ITO电路为上下双层结构，使得光源倾角及相机倾角不平行，照明投射机反射多次，出现无序叠加。以下就对电容屏ITO电路缺陷自动检测光照具体分析。

关键词

电容屏；电路；ITO；自动检测；光照

刊名

电路系统研究

ISSN

3078-9702

年、卷(期)

20215

所属期刊栏目

工程技术