题名
集成电路ESD注入损伤效应及注入电压与能量间的关系
DOI
10.12721/ccn.2022.157203
作者
丁伯继
作者单位
杭州士兰集昕微电子有限公司，浙江杭州，310018
摘要
确定电子元件的损伤阈值是决定元件功率值的主要因素，选择方波单脉冲的电流内应力法，选取特定的脉宽进行测试。目前方波注入实验是按照GJB538-88中的相关规定进行的，但是GJB538-88并没有将方波引起的辐射源场和高频的反射问题纳入计算范围之内。因此，通过选择专用的检测工具和设备，对检测的规范进行了改进，对74LS08的系统电子设备74LS08进行了方波注入实验，得到了74LS08的主要参数随脉冲宽度变化规律。
关键词
集成电路ESD；损伤效应；电压
刊名
电路系统研究
ISSN
3078-9702
年、卷(期)
202210
所属期刊栏目
工程技术
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