题名
车载TFT LCD器件高温信赖性串扰机理及改善研究
DOI
作者
苏磊 杨小飞 李兴华 刘旭 牟勋 孟佳
作者单位
成都京东方光电科技有限公司
摘要
研究了车载液晶显示器可靠性试验中高温串扰的相关影响因子,通过实验发现TFT沟道N+台阶越大,高温串扰表现越差,通过增加工艺中灰化时间可以改善沟道台阶问题。同时栅极绝缘层的厚度也会对可靠性评价中的高温串扰产生影响。并且通过DOE实验确定可靠性串扰的显著影响因子为沟道N+台阶和栅绝缘层厚度。
关键词
车载；液晶显示器；高温；串扰
刊名
光电子进展
ISSN
3078-9761
年、卷(期)
20194
所属期刊栏目
数学与物理
打印