题名
电路级模拟技术在SRAM型FPGA总剂量效应敏感性预测中的应用
DOI
作者
郭红霞 丁李利 范如玉 姚志斌 罗尹虹 张凤祁 张科营 赵雯
作者单位
1.西北核技术研究所；2.强脉冲辐射环境与效应国家重点实验室
摘要
在分析SRAM型FPGA单元电路及芯片辐照效应实验数据的基础上,借助计算机仿真模拟,研究了大规模集成电路抗辐射性能的敏感性预测技术。采用分层仿真和评价的方法,先由上而下,根据器件参数要求分配性能指标,再依据实验数据,借助数值模拟,由下而上检验性能阈值、裕量及其不确定度,最终给出整个FPGA的可信度值,确定了敏感单元电路,并且通过X射线微束总剂量实验对结果进行验证。建立的电路级数值模拟方法为累积电离总剂量效应敏感性预测研究,提供了技术支撑。
关键词
电子器件；总剂量效应；试验技术；电路模拟；敏感性预测
刊名
物理进展
ISSN
3078-9451
年、卷(期)
20181
所属期刊栏目
数学与物理
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