题名
基于双边缘模板匹配的类圆颗粒检测
DOI
作者
孙光民 孙凡
作者单位
北京工业大学信息学部
摘要
在各种不同应用场合,经常需要统计类圆颗粒数目,如工业领域的棒材计数、医学领域的细胞分割等,这些类圆颗粒通常形状并非十分规则,且有部分重叠。本文针对类圆堆叠颗粒的二值图像,提出了一种基于双边缘模板匹配的检测方法。首先利用粒度测量方法,得到类圆颗粒的估计半径,然后通过此半径构造一组边缘模板,同时使用Sobel算子将待检测的二值图像分别在两个方向上检测边缘,最后使用构造的模板对边缘进行匹配,并通过限制条件得到预期结果。实验表明,此方法可以有效检测此类颗粒,并且可以解决轻度堆叠、孔洞等影响。
关键词
​类圆颗粒；模板匹配；图像标记
刊名
软件工程研究
ISSN
3078-980X
年、卷(期)
201910
所属期刊栏目
工程技术
打印