本工作旨在探讨超薄取向硅钢组织及织构与磁性能的关系，并从加工工艺角度揭示如何减少不利于磁性能的组织和织构的产生。利用电子背散射衍射(EBSD)技术和X射线衍射(XRD)技术对两种磁性能不同的商业超薄取向硅钢带材的显微组织和织构进行对比分析，结果发现，二者组织、织构差异均比较明显。磁性能差的带材样品的组织尺寸不一，均匀性较差，η线织构(〈100〉//RD)所占比例偏低，非η线取向晶粒所占比例高且晶粒尺寸大，其取向特征主要表现为{210}〈001〉、{411}〈148〉及{111}〈110〉。这些不利组织的产生可能与轧制、退火工艺控制不当有关。因此，晶粒尺寸及η线取向晶粒所占比例的不同是造成两种带材性能差异的主要原因，在高性能取向硅钢超薄带材制备过程中，应精准控制轧制、退火制度等相关工艺，以避免非η线取向晶粒形成、长大。