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电子辐照导致CMOS图像传感器性能退化 下载：95 浏览：468

马林东1,2,3,4 郭旗1,2,3 李豫东1,2,3 文林1,2,3 冯婕1,2,3 张翔1,2,3,4 王田珲1,2,3 《物理进展》 2018年10期

摘要:
对国产科学级4T-CMOS图像传感器进行电子辐照实验,考察了暗电流、饱和输出灰度值、暗信号非均匀性等参数,分析了器件的电子辐照效应损伤机理。实验结果显示,随着辐照总吸收剂量的增加,器件的饱和输出灰度值下降,并且暗电流显著增加。分析认为,器件的饱和输出灰度值退化机制与电离总剂量效应引起的退化物理机理一致,辐照使转移栅沟道电势势垒下降是饱和输出灰度值下降的主要原因,而暗电流的增长主要由浅槽隔离界面缺陷和体缺陷造成。10MeV电子辐照后暗电流退化表现出一定的偏置效应,这是由10 MeV电子辐照引起的位移损伤所致。

一种光纤熔接机放电电弧位置的调整方法 下载：388 浏览：3406

叶旭1，2 《光电子进展》 2022年12期

摘要:
提出一种利用光纤熔接机自身软硬件资源实现放电电弧位置自动调整的方法，该方法基于Cortex-A5内核的ARM处理器[1]平台系统，通过CMOS图像传感器[2]采集到的光纤端面相对位置，送入CPU数据处理单元，在菜单界面中操作调整，实现了放电电弧位置的调节精度为0.6μm（1个像素），解决了目前放电电弧位置调整精度和效率低的问题。

嵌入式系统中CMOS图像传感器接口技术 下载：288 浏览：2808

郝晓辉 《传感器研究》 2021年2期

摘要:
CMOS图像传感器是近些年发展较快的新型图像传感器，由于采用了CMOS技术，可以将像素阵列与外围支持电路(如图像传感器核心、单一时钟、所有的时序逻辑、可编程功能和模数转换器)集成在同一块芯片上。因此与CCD相比，CMOS图像传感器将整个图像系统集成在一块芯片上，具有体积小、重量轻、功耗低、编程方便、易于控制等优点。对于手持式设备来说，体积和功耗是进行软硬件设计时重点考虑的问题，因此CMOS图像传感器应用在手持式设备当中将会有广阔的前景。基于此，本文主要对嵌入式系统中CMOS图像传感器接口技术进行分析探讨。
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