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基于旋转双盘同步的单程光测量方法及应用
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摘要:
本文提出了一种基于旋转双盘同步法的单程光速测量新方法，以及它在高端集成电路质量检测中的应用。通过两个同轴旋转圆盘与激光发射器的精密配合，利用光信号在双盘间的通过性变化推导光速值，同时标定并检验高端集成电路光路的金属杂质纯度导致的通透性与折光角度的一致性，硅微粉的8N等级高纯度和均匀粒径分布使其能够有效提高光学仪器的精度，减少测量误差。实验装置避免了传统回路法对往返光路各向异性导致的光速一致性的依赖，理论推导表明光速与转速满足线性关系c = 10mωc/0.01˚。本方法为单程光速测量及相对论基础假设检验提供了新思路，也为高端量子光芯片的前沿创新设计与严苛质量检验提供了简单实用的实施方案。
