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基于三维激光扫描和BIM技术的建筑物立面图测量方法探讨 下载:158 浏览:2675

姜凤岭 《光电子进展》 2024年6期

摘要:
建筑物立面图的精确测量对于建筑设计、施工和维护至关重要。传统的测量方法存在繁琐、耗时和误差大等不足之处。近年来,随着三维激光扫描和BIM技术的飞速发展,基于这两种技术的建筑物立面图测量方法逐渐受到广泛关注。本文针对这一问题进行了探讨。首先,介绍了三维激光扫描和BIM技术的原理和特点。然后,详细阐述了基于三维激光扫描的建筑物立面图测量方法,并通过实际案例进行了验证。接下来,探讨了基于BIM技术的建筑物立面图测量方法,并分析了其优势和应用前景。最后,对未来的研究方向进行了展望。
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