采用期间核查和质量控制的方法,是为了验证和确保低本底半导体γ谱仪工作性能的稳定和可靠,保证检测数据的质量和准确。使用低本底高纯锗γ谱仪GR8023,用不同的标准源测试其分辨力、短期稳定性、效率和活度,与JJG417-2006中对半导体γ谱仪的计量性能指标进行对比;测量10～20次相同时间间隔的本底计数,进行泊松分布检验,对一年内该仪器的本底计数和对同一标准源的探测效率进行统计,分别绘制本底和探测效率长期稳定性质量控制图。低本底高纯锗γ谱仪GR8023的主要计量指标满足要求,短期稳定性满足泊松分布,本底计数率和探测效率测量值均落在质量控制图的警戒线内。在一个检定周期内,低本底高纯锗γ谱仪GR8023的期间核查结果合格,短期稳定性和长期稳定性满足要求,仪器工作稳定,满足检测工作需要。