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半自动纳米量子点检测仪设计
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336
杨晓昆 张正平 张灿
《传感器研究》
2019年6期
摘要:
为填补纳米量子点研究领域中自动检测试验样本这一空白,结合现有量子点特征,自主设计出了一套专门检测纳米量子点的半自动化设备仪器。经过对几代产品结构的不断改进,并对检测仪器必须设备光谱仪等二次开发,驱动板卡PCI-6722、图像传感器CCD、光谱仪和MEMS微镜等硬件功能与PC软件高度集成,形成了一套成熟的检测系统。并且,在实际检测期间,针对PC上位机和下位机遇到的精确度问题,设计了专门算法以使该检测仪器能够更加直观、高效、准确地为科研人员提供便利。
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