基于嵌入式Flash存储器内建自测试电路设计问题研究 下载：237 浏览：1971

袁野 咸爱国 《设计研究》 2022年2期

摘要: 嵌入式存储器需要具有故障测试功能，能够对故障实施自动检测，保障电路工作的稳定性。基于此，本文将从Flash结构、故障模型、内建自测技术、March-like算法、控制器模块等方面对嵌入式Flash存储器内建自测电路进行分析，使存储器具有良好的自测功能，对存储器故障进行排查，使其具有良好的工作状态。