摘要: 介绍了运用晶硅太阳能电池电致发光成像法检测分析太阳能电池组件缺陷的方法。基于晶体硅电池的电致发光理论,分析电致发光强度与少数载流子扩散长度、开路电压之间的关系,并对电池组件电致发光图像缺陷进行理论分析和实验验证。研究结果表明:使用合格的电池、在合格的组件制造环节中封装的组件,电池片开路电压的差异会造成组件EL图像的明暗差异。