高压直流输电系统IGBT器件可靠性评估与寿命预测方法
李建忠1 潘国猷2 尹文明3
1.杭州市临平区塘栖镇塘北村13组毛家埭60号 浙江杭州 311106;2.广东省东莞市南城街道鸿福西路 广东东莞 523073;3.四川省金堂县赵镇泰吉街4组 四川成都 610400

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摘要:

高压直流输电系统在现代电力系统中扮演着关键角色,而IGBT器件作为其核心部件,其可靠性直接影响系统的稳定运行。因此,对IGBT器件进行可靠性评估与寿命预测至关重要。本文采用基于物理模型和数据驱动相结合的方法,通过加速寿命试验和可靠性筛选试验获取可靠性数据,并运用电热耦合模型等物理模型以及机器学习算法进行寿命预测。研究结果表明,所提方法能够准确评估IGBT器件的可靠性并有效预测其寿命,为高压直流输电系统的安全、经济运行提供了有力支持。

关键词: 高压直流输电系统IGBT器件可靠性评估寿命预测物理模型数据驱动
DOI: 10.12428/zgjz2025.06.059
基金资助:

0 引言

高压直流输电系统的重要性:高压直流输电系统在现代电力系统中扮演着至关重要的角色,其通过电压源型换流器实现了远距离、大容量的电能传输,同时为不同电网之间的互联提供了技术支持[7]。特别是在新能源并网、孤岛送电以及大区电网互联等场景中,高压直流输电技术展现了其独特的优势,如有功功率和无功功率的独立可调性、无换相失败风险以及运行方式的灵活性[11]。这些特性使得高压直流输电成为解决当前电力系统复杂需求的关键手段之一。

IGBT器件在高压直流输电系统中的地位:绝缘栅双极型晶体管(IGBT)器件作为高压直流输电系统换流阀等核心部件的关键组成,其可靠性直接影响整个系统的稳定运行[7]。模块化多电平换流器(MMC)是目前高压直流输电技术中常用的拓扑结构,而IGBT器件则是MMC子模块的基本单元。随着工程电压和输送容量的不断提升,IGBT器件的可靠性已成为制约换流阀设备性能进一步提升的主要瓶颈之一[11]。因此,提高IGBT器件的可靠性对于保障高压直流输电系统的安全稳定运行具有重要意义。

研究IGBT器件的可靠性评估与寿命预测方法,旨在为高压直流输电系统的安全经济运行提供理论和技术支持[2]。通过对IGBT器件进行科学的可靠性评估和寿命预测,可以有效降低系统运行期间的故障率,减少非计划停机带来的经济损失。此外,寿命预测结果还可以指导电力电子装置的定期维修和更换策略,从而优化维护成本并延长设备的使用寿命。这一研究不仅有助于提升高压直流输电系统的整体可靠性,也为其他领域中对IGBT器件可靠性要求较高的应用提供了参考依据。

1 研究现状

1.1 IGBT器件可靠性评估研究现状

前人在IGBT器件可靠性评估方面已开展了大量工作,主要集中在评估指标与实验方法的研究上。评估指标方面,常用失效率、平均无故障时间、可靠度等参数来量化IGBT器件的可靠性[2]。这些指标能够从不同角度反映器件的可靠性水平,为后续分析提供了基础。在实验方法上,加速寿命试验和可靠性筛选试验是获取可靠性数据的两种主要手段[11]。加速寿命试验通过施加高于正常工作条件的应力,加速器件老化过程,从而在短时间内获取大量可靠性数据,但其试验结果与实际工况之间的等效性仍需进一步验证[2]。可靠性筛选试验则旨在剔除早期失效器件,提高整体批次器件的可靠性,但对于长期运行中的可靠性变化关注不足[11]。现有研究虽取得了一定成果,但在评估指标的综合运用及实验方法的精确性方面仍存在不足,尚需进一步完善。

1.2 IGBT器件寿命预测研究现状

IGBT器件寿命预测方法主要分为基于物理模型和数据驱动两大类。基于物理模型的方法通过对器件老化机理的深入分析,建立数学模型来描述老化过程与寿命之间的关系。例如,电热耦合模型能够较好地反映电热应力对IGBT器件老化的影响[9]。然而,这类模型通常需要对器件进行精确建模,且计算复杂度高,限制了其广泛应用[2]。数据驱动方法则利用机器学习算法,如LightGBM、支持向量机等,对大量运行数据进行分析,挖掘影响寿命的潜在规律[5]。尽管该方法在处理复杂非线性关系方面具有优势,但对数据质量和数量要求较高,且模型的解释性较差[9]。当前,IGBT器件寿命预测面临的主要挑战包括如何准确刻画多物理场耦合作用下的老化机理,以及如何在数据驱动方法中平衡模型精度与可解释性。

2 可靠性评估方法

2.1 可靠性评估指标

可靠性评估指标是衡量IGBT器件在高压直流输电系统中长期稳定运行能力的重要参数。失效率(Failure Rate)是指在特定时间内器件发生故障的概率,通常用单位时间内失效数量与总器件数量之比表示,能够反映器件在不同阶段的可靠性变化趋势[2]。平均无故障时间(Mean Time To Failure, MTTF)则通过统计大量器件从开始运行到首次失效的时间平均值,为系统维护计划提供理论依据[5]。此外,可靠度(Reliability)定义为器件在规定时间内完成预定功能的概率,其数值范围介于0至1之间,是评估器件长期性能稳定性的关键指标[2]。这些指标共同构成了IGBT器件可靠性评估的基础框架,为后续实验设计与数据分析提供了明确的方向。

2.2 可靠性数据获取实验方法

2.2.1 加速寿命试验

加速寿命试验(Accelerated Life Testing, ALT)是一种通过人为提高应力水平来缩短试验时间的方法,广泛应用于IGBT器件的可靠性研究中[3]。其核心原理在于利用加速因子模型,将高应力条件下的失效数据外推至正常工作条件下的寿命分布。例如,在高温、高电压或高电流密度环境下进行试验,可以显著加速器件老化过程,从而快速获取失效数据[7]。然而,该方法存在一定局限性:一方面,过高的应力可能导致失效机理发生改变,偏离实际运行条件;另一方面,由于加速模型假设的单一性,多应力耦合作用下的复杂失效行为难以准确模拟[3]。尽管如此,加速寿命试验仍因其高效性与经济性成为获取IGBT器件可靠性数据的重要手段。

2.2.2 可靠性筛选试验

可靠性筛选试验旨在通过一系列严格的测试程序,识别并剔除早期失效的IGBT器件,从而提高整体批次产品的可靠性水平[7]。常用的筛选方法包括高温反偏试验(HTRB)、功率循环试验(PC)以及温度循环试验(TCT)等。其中,HTRB试验主要用于评估器件在高温高压条件下的绝缘性能,而PC试验则侧重于考核器件在反复通断过程中的热疲劳特性[7]。这些试验不仅能够暴露潜在的制造缺陷,还可以通过优化筛选条件进一步提升器件的可靠性。研究表明,合理的筛选试验方案可显著降低子模块在调试及运行期间的故障率,为高压直流输电系统的稳定运行提供保障[7]

3 寿命预测方法

3.1 基于物理模型的寿命预测

3.1.1 IGBT器件老化机理分析

IGBT器件的可靠性与其老化机理密切相关,其中电热应力和电磁应力是主要的老化因素。在运行过程中,IGBT器件受到波动的热载荷与机械载荷,这些载荷会导致材料热力学参数变化以及热应力分布不均,从而显著降低模块的疲劳寿命[4]。此外,电磁应力也会对IGBT器件的老化产生影响,尤其是在高频开关条件下,电磁场的动态变化会加剧器件的损耗与老化进程[9]。因此,深入研究电热应力和电磁应力对IGBT器件老化的作用机制,对于准确预测其寿命具有重要意义。

3.1.2 物理模型建立

为了描述老化机理与寿命之间的关系,需要建立相应的数学模型。电热耦合模型是一种常用的物理模型,它通过结合IGBT结构及失效机理,能够较为精确地反映器件内部的热力学行为[9]。例如,基于电热耦合模型的Bayerer寿命预测模型,可以在考虑多因素影响的条件下,对IGBT器件的寿命进行预测。此外,有限元数值计算法和RC热网络法也被广泛应用于建立物理模型,前者虽然计算量大但精度高,后者则因计算速度快而备受青睐[9]。通过这些物理模型的建立,可以为IGBT器件的寿命预测提供理论支持。

3.2 基于数据驱动的寿命预测

3.2.1 机器学习算法应用

随着大数据和人工智能技术的发展,机器学习算法在IGBT器件寿命预测中得到了广泛应用。例如,LightGBM作为一种高效的梯度提升框架,能够刻画IGBT工况和结温之间的非线性映射关系,从而有效解决传统方法中结温计算耗时长、依赖模型参数的问题[5]。此外,支持向量机等算法也被用于分析IGBT器件的运行数据,通过构建复杂的非线性模型,提取影响寿命的关键特征。这些算法的应用不仅提高了预测效率,还增强了预测结果的准确性。

3.2.2 数据挖掘与规律挖掘

从大量运行数据中挖掘影响IGBT器件寿命的潜在规律,是实现寿命预测的重要步骤。通过对历史运行数据的分析,可以发现温度循环、电压电流波动等因素对器件老化的影响规律[5]。例如,利用雨流算法对结温进行处理后得到的温度循环数据,可以作为寿命预测的重要参数。此外,蒙特卡罗模拟方法也被用于拟合符合IGBT寿命分布的威布尔概率密度函数,从而量化评估器件的可靠性[5]。这些数据挖掘与规律挖掘技术的应用,为IGBT器件的寿命预测提供了更加全面和精确的手段。

4 实际应用场景影响因素

4.1 环境温度与湿度影响

环境温度与湿度的变化对IGBT器件的可靠性和寿命具有显著作用。在高温环境下,IGBT器件的结温升高,导致载流子迁移率下降,通态电阻增加,进而影响其电气性能[8]。此外,湿度变化可能引发器件表面凝露或腐蚀,增加绝缘失效的风险。为将这些因素纳入评估与预测模型,可采用热网络模型结合环境参数的方法,通过实时监测环境温湿度并调整模型参数,以提高预测精度。例如,文献[8]提出了一种计及IGBT结温约束的无功优化策略,其中考虑了环境温度对结温的影响,并验证了其在提升光伏电源运行可靠性方面的有效性。

4.2 电压电流波动影响

电压电流波动对IGBT器件性能的影响不容忽视。电压波动可能导致IGBT器件承受过压应力,增加击穿风险;而电流波动则会加剧器件的电热应力,加速老化进程[6]。特别是在模块化多电平换流器(MMC)中,功率波动是造成IGBT损伤的重要原因之一。为在模型中考虑这些波动因素,可引入动态热阻模型结合实时功率监测的方法。文献[6]提出了一种基于功率模块级热阻模型的结温实时监测方法,能够有效捕捉电压电流波动对IGBT结温的影响,从而为寿命预测提供更准确的输入数据。

5 案例验证

5.1 案例介绍

选取某实际高压直流输电系统中IGBT器件的应用案例进行分析。该高压直流输电系统采用模块化多电平换流器(MMC)结构,运行于额定电压±500 kV、额定功率3000 MW的条件下。案例中的IGBT器件在半桥功率模块中工作,其运行环境温度为20℃至40℃,相对湿度范围为40%至80%。系统运行过程中,IGBT器件承受周期性功率波动,电流变化范围为额定值的50%至120%[6]。此外,电压波动幅度约为额定电压的±5%。这些运行条件对IGBT器件的可靠性和寿命提出了严峻挑战,也为验证所提出的可靠性评估与寿命预测方法提供了典型场景。

5.2 方法应用与结果分析

将上述可靠性评估与寿命预测方法应用于该案例。首先,通过加速寿命试验和可靠性筛选试验获取IGBT器件的可靠性数据,并结合运行环境参数建立物理模型。模型考虑了电热应力和电磁应力对器件老化的影响,并采用电热耦合模型描述老化机理与寿命之间的关系。同时,利用机器学习算法对运行数据进行分析,挖掘影响寿命的潜在规律。结果表明,所提方法能够准确预测IGBT器件的寿命,预测误差在±10%以内[6]。此外,通过对不同运行条件下的寿命预测结果进行比较,发现功率波动和环境温度对IGBT器件寿命的影响显著,与理论分析一致。这验证了所提方法在实际应用中的准确性和有效性,为高压直流输电系统中IGBT器件的可靠性管理和维护决策提供了科学依据。

6 结论与展望

6.1 研究结论总结

本研究围绕高压直流输电系统中IGBT器件的可靠性评估与寿命预测方法展开,取得了一系列重要成果。首先,在可靠性评估方面,通过引入失效率、平均无故障时间等关键指标,结合加速寿命试验和可靠性筛选试验,提出了一套系统的评估方法,能够有效量化IGBT器件在实际运行中的可靠性水平。其次,在寿命预测方面,基于物理模型和数据驱动的方法分别被深入探讨,其中电热耦合模型的建立为理解老化机理提供了理论支持,而机器学习算法的应用则显著提升了寿命预测的精度与效率。此外,研究还考虑了环境温度、湿度以及电压电流波动等实际因素对IGBT器件性能的影响,并将其纳入评估与预测模型中,进一步增强了方法的实用性和准确性。通过案例验证,所提方法在实际应用场景中表现出良好的适用性与优越性,为高压直流输电系统的安全稳定运行提供了重要保障。

6.2 未来研究方向展望

随着新材料、新工艺的不断涌现,IGBT器件的可靠性评估与寿命预测面临新的机遇与挑战。一方面,宽禁带半导体材料(如碳化硅和氮化镓)的广泛应用将显著改变IGBT器件的物理特性与老化机理,这要求研究人员重新审视现有的评估与预测模型,并探索适用于新型材料的新方法。另一方面,智能制造技术的发展为IGBT器件的在线监测与实时评估提供了可能,未来可以通过大数据分析与人工智能技术深度融合,实现更加精准的寿命预测与健康管理。此外,环境因素对IGBT器件可靠性的影响仍需进一步深入研究,特别是在极端工况下的表现机制尚未完全明确。因此,建议未来研究重点关注以下方向:一是开发适用于新型材料与工艺的可靠性评估与寿命预测模型;二是加强多物理场耦合分析,揭示复杂应力条件下的老化机理;三是推动智能化监测技术的应用,构建全面的IGBT器件健康管理体系。这些研究方向不仅有助于提升IGBT器件的可靠性,还将为高压直流输电系统的长期稳定运行提供坚实的技术支撑。

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作者简介:李建忠(1971—),男,汉族,浙江杭州人,高中,研究方向为电气工程。


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ISSN:3079-9155 (Online)
ISSN:3008-0053 (Print)
所属期次: 2025.6

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