数字量采集电路工作温度过高问题分析与解决
​丁远浩 王永刚
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​丁远浩 王永刚,. 数字量采集电路工作温度过高问题分析与解决[J]. 电路系统研究,2023.8. DOI:10.12721/ccn.2023.157303.
摘要: 在铁路设备网络控制系统数字量采集设备的研发过程中发现,该设备功能正常但温升超出预期。通过测试分析确定原因是电路中光耦合器的输出端电阻过大,导致控制波形异常,无法有效实现分时采集,从而导致设备温升过高。最后通过对电阻阻值的重新选型,成功解决了该问题。
关键词: 数字量采集电路;温度过高;解决
DOI:10.12721/ccn.2023.157303
基金资助:

1. 问题描述

在铁路车辆网络控制系统中,数字量采集设备功耗和温升的控制是设计工作中的一个重要方面。数字量的分时采集是控制温升和功耗的一个重要方法。

在新型数字量采集电路板的研发过程中,发现电路板在所有数字量采集通道均接高电平后,室温下的温升达到40℃,由于该电路板采用了分时采集技术来降低功耗,根据经验该板卡满载情况下,室温下温升不应超过15℃。下图1为电路板工作一小时后的温升测试情况。

截图1741680622.png图1

2. 数字量采集原理

数字量采集电路简化后的原理如下图2中所示。一个数字量采集电路板中有24路采集通道。每路通道将采样结果送至板内CPU。另外,每个采集通道负端与110V电源负极之间,使用了一个NMOS管作为电子开关,用于控制24路采集通道的分时导通,以此来降低板卡的平均功耗。分时采集控制电路中,使用了光耦合器来控制NMOS管的通断。

截图1741680638.png图2

3. 测试分析

针对故障问题,使用示波器测量分时采集电路中的两个电压信号。示波器探头架设位置如图3中所示。

截图1741680657.png图3

示波器测得波形如下图4中所示。可见NMOS1的栅极控制电压下降沿过缓,这导致NMOS1一直导通。

而由于NPSA电路一直导通,数字量采集通道未实现分时采集的功能。这导致数字量采集通道的平均功率过大,从而导致发热严重。

截图1741680677.png图4

通过分析电路原理,推测有两个因素可能会导致NMOS栅极电压下降沿过缓:

① R22阻值过大;

②NMOS栅极电容值过大。

下图5为光耦G1的技术手册中对于光耦输出端导通关断时间的描述,可见光耦输出端的限流电阻阻值越大,输出端的关断时间ts,tf越长。

截图1741680700.png图5

针对光耦芯片这一特性,在实验室中测试了R22的阻值与光耦输出端波形变化之间的关系。测试结果如下图6中所示

截图1741680724.png图6

由上图可见,R22的阻值对光耦G1输出端的关断时间影响明显。

而在保持R22阻值为1K的情况下,测量了去掉NMOS栅极滤波电容C23前后,NMOS栅极电压的变化情况,波形如下图7中所示。

截图1741680742.png图7

由上图可见,C23的容值对NMOS栅极电压的变化情况由一定影响,但不起决定作用。

综上所述,导致该数字量采集电路板工作过程中发热严重的原因是R22阻值过大。

4. 解决措施

根据第三节中的分析结果可知,为降低数字量采集通道采集时的平均功率,需尽量减小R22的阻值。由于电路板中R22使用了0805封装,器件额定功率为0.125W。在光耦G1一直导通的情况下,R22阻值大于2KΩ才能将功耗保持在额定功率以内。故考虑将R22阻值改为2KΩ。

将电路板R22阻值变为2KΩ,同时修改程序,使G1输出端一直导通;室温下工作1.5小时的温升情况如下图8中所示。

截图1741680781.png图8

截图1741680797.png图9

截图1741680836.png图10

5. 结束语

经过优化,新型数字量采集板卡的功耗性能已达到预期要求,现已顺利通过功能验证、型式试验和装车验证。本文中的研究过程总结了光耦合器作为MOSFET驱动电路重要器件时外围电阻的选型经验。

参考文献:

[1]许天骄,吴胜华,张楠桢等.提高数字量输入信号采集回路安全性的方法分析[J].仪器仪表用户,2021,28(08):26-28.

[2]马骏,苏冬云.温度数据采集测试系统设计[J].机电工程技术,2005(10):24-27+104.

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