数字集成电路在集成电路的操作流程与设计方面难度呈现出逐渐递增的状况，因此对相关技术人员带来了一定的挑战，技术人员需要根据基本的测试原理，对各种各样的系统进行不同的测试，使得工作人员需要具备更加良好的技术水平，在当前的发展过程中，数字集成电路的测试已经能够在集成电路基本的制造与设计过程中得到进一步的落实，因此数字集成电路在当前的集成电路产业环节中，也能够起到良好的支撑作用，本文将对数字集成电路测试技术的应用进行分析。
一、数字集成电路测试系统的基本结构分析
为更好地促进数字集成电路测试技术得到进一步的发展，需要对数字集成电路测试系统的基本结构进行一定的分析与研究，对于数字集成电路测试系统的基本特性进行分析的过程中，可以发现该系统不仅能够对半导体的存储电路基本情况进行一定的测试，还能够进一步完成对其他不同类型电路的测试，因此对于此系统而言，可以对不同类型以及不同参数的系统进行一定的测试，而且其效率相对较高，也能够进一步促使其测试效果相对较好，而且该系统能够与较高测试效率的方式进行联合，对于推动相关的电路功能以及运行过程中交流参数等方面 的同时测试起到良好效果，能够进一步推动测试效率的提升，在通过数字集成电路测试系统进行测试的过程中，对于有关器材以及相应的配件需要进行一定的使用，为保障测试的顺利进行，相关工作人员应该对器材以及电子电路的基本运行成本进行更加合理有效的配置。
对计算机的子系统进行测试是计算机系统测试中的主要内容，对于计算机系统的组成结构而言，计算机的设备以及相关操作技能都是子系统所具有的，对此系统进行测试，能够更加高效的完成计算机系统的基本测试任务。由于计算机子系统不仅包含了图像编辑器，还包括与计算机有关的存储器等多项内容，因此对计算机的子系统进行测试能够实现对整个数字集成电路系统的良好控制，对于系统控制器而言，也能够发挥良好的作用。与此同时，对于与之相关的电路进行测试的过程中，由于系统控制器的计算、处理、分析能力相对较为强大，因此能够起到良好的测试效果，而且为了进一步提高不同测试之间引脚信息的数据储存情况，相关人员需要将计算机与主存储器之间进行有效的联结，从而推动其测试更加高效。
在对数字集成电路进行测试的过程中，不同的环境会导致测试结果产生较大的不同，因此相关工作人员需要对计算机进行充分的使用，在此阶段最主要的配备支持便是图像终端以及其他拷贝配备等，在进行图像生产的过程中，使用图像编辑器能够促使图像的排列与规划更加精致便捷。与此同时，在时间控制器的协助下，能够对更加合理的对集合和运行方式进行选择，由于数字集成电路测试系统在运行的过程中，需要相对较为充足的电量，因此保障该系统电量充足，也是有关工作人员的主要工作内容。
在数字集成电路发展的过程中，由于其具有特殊化以及多样化和个性化的特点，因此使得人民群众对于数字集成电路的基本发展情况，以及相关衍生产品的关注度逐渐提升，对其要求也呈现出逐渐增高的现象。对于广大客户而言，数字集成电路的相关产品在其性能以及性价比方面有所提升也是客户的良好期盼。
二、数字集成电路测试相关原理以及标准研究
对于数字集成电路而言，在其发展过程中，为更好地促使该系统能够完成对设备的基本运行情况，以及产品质量和制作流程等方面的明确，需要不断地对数字集成电路测试的基本原理与相关标准进行分析，通过对相对较为常见的测试方式进行研究，促使数字集成电路测试技术得到良好的发展。
（一）数字集成电路功能方面测试
对于数字集成电路的功能测试方面而言，集成电路的设计制造方面能否有效达到相应的目标是十分重要的内容，在进行测试时，相关工作人员需要将测试图形在输入的一端进行输入，从而更加有效地刺激其产生相应的信号，与此同时，需要严格遵守电路中的频率走向测试，其能够输入到被测试的相关机器中，通过更加充分的考量判断预期的图形是否能够与输出采集后的图形相一致，通过这种方法能够有效地完成对电路基本性质是否正常的判断，这也是功能测试环节中的关键内容。对于各大机器而言，其配备的检测都是借助图形的形式完成最基本的判断，对于相对较为优秀的测试图形而言，其能够促使自身故障的覆盖程度有所提高，而且能够有效缩短测试时长，对于机器配备中出现的相应故障也能够及时地进行检测，避免相应问题的出现影响测试效果。在对测试电路的基本质量问题进行研究的过程中，可以发现矢量测试的精确程度是影响电路质量的关键环节，对于集成电路时序方面测试效率而言，组成电路测试矢量的生成以及时序电路测试矢量的生成具有十分重要的价值，能够促使集成电路时序方面的测试效率有所提高，通过对组合电路基本情况的分析，可以发现，其主要测试方法有穷举法以及随机法和蕴含图法等多种内容。
（二）直流参数测试分析
漏电测试法和电平转化测试法是直流参数测试中的两种基本内容，本文将对这两种测试方法的基本原理进行介绍与研究。
（1）漏电测试法
对于漏电测试法而言，其应用优势和潜能相对较大，不仅能够对电路设备中现阶段存在的相关漏电问题进行适当的分析，还能够在对数字集成电路进行使用的过程中决定相关运行设备是否出现老化与损耗问题，对于直流参数测试具有十分重要的影响。由于数字集成电路在运行的过程中需要较大的电量需求，因此相关工作人员在对绝缘层进行设计时，会适当减少其厚度，这也导致了数字集成电路在长期使用的过程中，容易出现设备老化以及磨损和绝缘体破裂等情况的发生，这一现象的发生会使得集成电路相关设备在运行过程中容易出现漏电的情况，针对出现的这一问题，相关人员可以借助漏电测试法完成对相关设备的有效检测，保障能够更加精准地确定设备漏电部位，为后续的设备修补提供更加有效的支持，在进行后续的修补过程中，对于设备的电路输出功率和输入功率也应该进行关注。
（2）电平转化测试法
对于电平转化测试法而言，其主要是对相关电路设备使用过程中失效部分的临界值进行一定的测试，相较于鲁甸测试法而言，其针对性相对较强。
（三）交流参数测试法
在对交流参数测试法进行分析的过程中，可以发现，其是在电路设备进行测试之后进行的，与直流参数测试法在测试过程中进行的有着本质的区别。对于数字集成电路测试系统而言，主要是通过交流参数测试法进行的，此种测试方法测试出的数据能够对数字集成电路是否能够正常工作进行测试，了解数字集成电路是否具有正常的工作状态，在用交流参数测试的过程中，其主要是通过更加专业的相关检验仪器以及检验顺序完成对设备的测试，促使数字集成电路在运行的过程中能够保证良好的状态。
结束语：
总体而言，通过对上文的分析可以看出数字集成电路测试技术难度相对较高，但是为了更好地促使数字集成电路拥有良好的发展空间，相关工作人员应该对其测试原理以及相应的标准进行研究，通过对数字集成电路功能方面以及直流参数测试和交流参数测试等多种方法实现数字集成电路测试技术的提升。
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宋继海，198606，男，汉，甘肃靖远，中电商务（北京）有限公司，部门总经理，工程师，在职研究生，集成电路
